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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation

The Springer International Series in Engineering and Computer Science 73

Erschienen am 30.06.1989
106,99 €
(inkl. MwSt.)

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Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9780792390251
Sprache: Englisch
Umfang: xii, 148 S.
Einband: gebundenes Buch

Zusätzliche Informationen

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